О сборнике
Реклама
Авторам
Контакты
Свежий номер
Архив номеров
Все
ЭМП-фильтры
Стандарты ЭМС
Пассивные компоненты
Разработка и конструирование
Испытания на ЭМС
Список ЭМС лабораторий
Метки
TDK
OOO «Тор»
GW Instek
Российская электроника
ВНИИФТРИ
МНИИРИП
Tektronix
КРЭЛС
Good Will Instrument
Fair-Rate
Broadcom
Littelfuse
Треком
Daiichi Seiko
Coilcraft
Лаборатория ЭМС инноваций
Crown Ferrite Enterprise
Langer EMV-Technik
Toshiba
KEMET
Vishay
Microchip
TDK EPCOS
Диполь
Emicore Corporation
BEISIT
Завод Магнетон
Spectrum Control
Texas Instruments
Rohde&Schwarz
Реклама
Влияние паразитных параметров корпуса на ЭМС
В статье рассматривается влияние паразитных параметров корпусов микросхем на электромагнитную совместимость. Приведены осциллограммы переходных процессов, возникающих при коммутации, в случаях применения разных корпусов.